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德国菲希尔X射线荧光分析仪XDLM237和XDAL237SDD主要性能对比

德国菲希尔X射线荧光分析仪XDLM237和XDAL237SDD主要性能对比

  菲希尔公司FISCHER品牌的x-ray镀层厚度检测及材料分析仪是业内的标杆产品,在全球有着广泛的客户和良好的声誉。FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM 237 X射线镀层厚度测试仪及材料分析仪采用手动或自动方式,测量和分析微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层。FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL 237 SDD X射线镀层厚度测试仪及材料分析RoHs检测仪,配备可编程运行XY工作台及Z轴升降系统,全自动测量超薄镀层厚度和分析材料成分。两者主要电器参数对比如下表:

机型                      Model

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM 237

X射线镀层厚度测试仪及材料分析仪

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL 237 SDD

X射线镀层厚度测试仪及材料分析RoHs检测仪

备注                                                    Remark

测量元素范围       Element Range

Cl17-U92

Al13-U92

XDAL237 SDD的测量元素范围更大,可以测P磷等元素

分析软件                Software

WinFTM(V6 LIGHT)                                    可*多同时测量4层镀层,5种元素,在选配BASIC时可测23层镀层,24种元素                                                    

WinFTM(V6 BASIC)                                           可*多同时测量23层镀层,24种元素                                    

XDLM237的主要应用为镀层厚度的测量,XDAL237SDD不但在测厚方面更具优势,可测量纳米级镀层;并且可以做精-确的材料分析以及RoHs痕量分析。XDAL237 SDD 标配 Basic版软件

X射线发生装置               X-Ray Tube

W靶微聚焦射线管                                              

W靶微聚焦射线管                                                

高压                High voltage

三种可调高压:30 kV40 kV50 kV                             

三种可调高压:10 kV30 kV50 kV                         

10kV的电压可用于测量能量更低的元素(例如:P磷等)

准直器              Aperture (Collimator)

4个可切换准直器(?0.1/?0.2/0.05x0.05/0.2x0.03mm                                             

4个可切换准直器(?0.1/?0.3/?0.6/?0.5*0.15mm)                   

XDAL237配备了更大的0.6mm准直器,使得测量大样品和RoHS的应用时,大大提高精度。

测量点大小   Measurement spot size

? 0.1 mm                                          

? 0.15 mm                                         

X射线接收器              X-ray detector

比例接收器  FWHM900eV                                       

硅漂移SDD半导体探测器 FWHM160eV                      

XDAL237 SDD配备*先进的SDD硅漂移接收器,有更高的能量分辨率。频谱上相邻元素之间干扰更小,精度更高。并且可进行痕量分析(可满足RoHS的应用)。

滤波片                Primary filter

3 种可切换滤片 (//无)                                           

3 种可切换滤片 (//无)                                          

放大倍数                   Zoom factor

40X-160X

40X-160X

样品台尺寸               Usable sample placement area

300 × 350 mm

300 × 350 mm

移动方式                  Travel Mode

电动可编程                                              

电动可编程                                              

可移动范围                  Maximum travel XY

255*235mm

255*235mm

Z                     Z-axis

可编程运行                                              Programmable

可编程运行                                              Programmable

随机元素片                Pure Element

12纯元素片:(Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr)         12 Pure Element

14纯元素片:(Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,CrTiS) 14 Pure Element

以上
德国菲希尔X射线荧光分析仪XDLM237和XDAL237SDD主要性能对比表中红色字体为差异体现。XDLM237机型虽然在性能上与XDAL237SDD有不及的地方,但因其相对低廉的价格和同样不俗的性能使得XDLM237成为菲希尔x射线材料厚度分析仪中的主流畅销机型。

其他检测仪器:超声高温耦合剂铁素体含量检测仪

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